IEEE C 62.37-1996 可控硅二极管缓冲保护装置试验规范
作者:标准资料网 时间:2024-05-28 11:31:09 浏览:9821
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【英文标准名称】:Testspecificationforthyristordiodesurgeprotectivedevices
【原文标准名称】:可控硅二极管缓冲保护装置试验规范
【标准号】:IEEEC62.37-1996
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1996
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国电气电子工程师学会(IEEE)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体;电压保护;定义;定义;规范;半导体闸流管;过电压保护装置;电气工程
【英文主题词】:Definition;Definitions;Electricalengineering;Overvoltageprotection;Semiconductors;Specification;Thyristors;Voltageprotection
【摘要】:
【中国标准分类号】:L43
【国际标准分类号】:31_080_10;31_080_20
【页数】:56P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:可控硅二极管缓冲保护装置试验规范
【标准号】:IEEEC62.37-1996
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1996
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国电气电子工程师学会(IEEE)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体;电压保护;定义;定义;规范;半导体闸流管;过电压保护装置;电气工程
【英文主题词】:Definition;Definitions;Electricalengineering;Overvoltageprotection;Semiconductors;Specification;Thyristors;Voltageprotection
【摘要】:
【中国标准分类号】:L43
【国际标准分类号】:31_080_10;31_080_20
【页数】:56P;A4
【正文语种】:英语
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