ASTM F 673-1990 用无触点涡流计测量半导体单片电阻率或半导体膜片电阻率的标准试验方法

作者:标准资料网时间:2024-05-19 05:25:31 浏览:8269 来源:标准资料网

【英文标准名称】:StandardTestMethodsforMeasuringResistivityofSemiconductorSlicesorSheetResistanceofSemiconductorFilmswithaNoncontactEddy-CurrentGage
【原文标准名称】:用无触点涡流计测量半导体单片电阻率或半导体膜片电阻率的标准试验方法
【标准号】:ASTMF673-1990
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1990
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子工程;半导体;垫圈;层;试验;测量;影片;半导体器件;电阻器;涡流试验
【英文主题词】:eddy-currenttests;testing;electronicengineering;washers;semiconductordevices;semiconductors;films;resistors;measurement;layers
【摘要】:
【中国标准分类号】:H80
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:11P;A4
【正文语种】:英语

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标准名称：	杨桃嫁接苗
英文名称：	Carambola grafting
中标分类：	农业、林业 >> 粮食与饲料作物 >> 种籽与育种
发布部门：	中华人民共和国农业部
发布日期：	2001-08-20
实施日期：	2001-11-01
首发日期：	1900-01-01
作废日期：	1900-01-01
起草单位：	农业部热带作物及制品标准化技术委员会
出版社：	中国标准出版社
出版日期：	2004-04-17
页数：	10
书号：	155066.2-13957