SJ 966-1975 硅开关二极管反向击穿电压的测试方法
作者:标准资料网 时间:2024-05-15 04:05:40 浏览:9623
来源:标准资料网
基本信息
标准名称: | 硅开关二极管反向击穿电压的测试方法 |
英文名称: | Methods of measurement for reverse breakdown voltage of silicon switching diodes |
中标分类: |
电子元器件与信息技术 >>
半导体分立器件 >>
半导体二极管 |
发布部门: | 中华人民共和国第四机械工业部 |
发布日期: | 1975-07-26 |
实施日期: | 1976-06-01 |
首发日期: | |
作废日期: | 2010-01-20 |
出版社: | 中国电子工业出版社 |
出版日期: | 1976-06-01 |
页数: | 2页 |
适用范围
本标准适用于硅开关二极管反向击穿电压的测试。测试反向击穿电压总的要求应符合SJ962-75.
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所属分类: 电子元器件与信息技术 半导体分立器件 半导体二极管
【英文标准名称】:Methodsoftestforformicacid
【原文标准名称】:甲酸的试验方法
【标准号】:BS4341-1968
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:1968-09-19
【实施或试行日期】:1968-09-19
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验设备;含量测定;羧酸(脂族);硫酸盐;光度测量法(化学分析);酸滴定法;比浊法;甲酸;SI制;乙酸;氯化物;尺寸;光谱化学分析;工业的;容量分析;化学分析和试验;酸度;酸
【英文主题词】:Acidity;Chemicalanalysisandtesting;Chlorides;Determinationofcontent;Formicacid;Inorganic;Potentiometricmethods;Sulphates;Testing;Tests
【摘要】:Determinationoftotalacidity,acidsotherthanformicacid;limittestsforinorganicchloridesandinorganicsulphates.
【中国标准分类号】:G17
【国际标准分类号】:71_080_40
【页数】:12P.;A4
【正文语种】:英语
MIL-B-44360A (NOTICE 1), MILITARY SPECIFICATION: BREAD, SHELF STABLE, FOR OPERATIONAL RATIONS (31 MAR 1997) [S/S BY MIL-DTL-44360B]., MIL-B-44360A, is inactive for new design and is no longer used, except for replacementpurposes.