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SJ 966-1975 硅开关二极管反向击穿电压的测试方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-15 04:05:40  浏览:9623   来源:标准资料网
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基本信息
标准名称:硅开关二极管反向击穿电压的测试方法
英文名称:Methods of measurement for reverse breakdown voltage of silicon switching diodes
中标分类: 电子元器件与信息技术 >> 半导体分立器件 >> 半导体二极管
发布部门:中华人民共和国第四机械工业部
发布日期:1975-07-26
实施日期:1976-06-01
首发日期:
作废日期:2010-01-20
出版社:中国电子工业出版社
出版日期:1976-06-01
页数:2页
适用范围

本标准适用于硅开关二极管反向击穿电压的测试。测试反向击穿电压总的要求应符合SJ962-75.

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所属分类: 电子元器件与信息技术 半导体分立器件 半导体二极管
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【英文标准名称】:Methodsoftestforformicacid
【原文标准名称】:甲酸的试验方法
【标准号】:BS4341-1968
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:1968-09-19
【实施或试行日期】:1968-09-19
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验设备;含量测定;羧酸(脂族);硫酸盐;光度测量法(化学分析);酸滴定法;比浊法;甲酸;SI制;乙酸;氯化物;尺寸;光谱化学分析;工业的;容量分析;化学分析和试验;酸度;酸
【英文主题词】:Acidity;Chemicalanalysisandtesting;Chlorides;Determinationofcontent;Formicacid;Inorganic;Potentiometricmethods;Sulphates;Testing;Tests
【摘要】:Determinationoftotalacidity,acidsotherthanformicacid;limittestsforinorganicchloridesandinorganicsulphates.
【中国标准分类号】:G17
【国际标准分类号】:71_080_40
【页数】:12P.;A4
【正文语种】:英语


MIL-B-44360A (NOTICE 1), MILITARY SPECIFICATION: BREAD, SHELF STABLE, FOR OPERATIONAL RATIONS (31 MAR 1997) [S/S BY MIL-DTL-44360B]., MIL-B-44360A, is inactive for new design and is no longer used, except for replacementpurposes.